アントンパール・ジャパン×セイシン企業共催セミナーのお知らせ

2021年2月16日 （火）に、 アントンパール・ジャパンとセイシン企業の共催で 「スラリーの
レオロジー測定と粒子形状測定」ウェブセミナーを開催いたします。

【開催日】 2021年2月16日 （火） 15:00 ～ 16:00
【場所】WEBセミナーのためインターネット環境であればどこでも視聴可能
【定員】100名様
【参加費】 無料
※本セミナー受付は終了いたしました。

プログラム

15:00～15:20

15:20～15:25

15:25～15:55

15:55～16:00

1. 粒子形状画像解析装置のご紹介

　質疑応答

2. レオメータのご紹介

　質疑応答
プログラム詳細
1. 粒子形状画像解析装置のご紹介 
弊社の粒子形状画像解析装置（型式：PITA-04）はスラリー中の粒子形状評価（粗大粒子、凝集物の測定）が可能な製品となっております。短時間で数万個の粒子を取込み、画像解析によって、粒子一つ一つの画像および円相当径、円形度、短径、長径、アスペクト比などのパラメータを出力する事が出来ます。本セミナーでは装置の概要や測定事例などをご紹介します。（株式会社セイシン企業）
2. レオメータのご紹介
レオロジー測定は、これまで評価が困難であった希薄～濃厚粒子分散系サンプルの凝集、沈降などの分散特性、複雑な流動特性を希釈することなく原液の状態で評価することができます。本セミナーでは、弊社MCRレオメータを用いた各種スラリーサンプルの評価事例をご紹介します。（株式会社アントンパール・ジャパン）

※ご参加情報、アンケートの回答などにつきましては、株式会社セイシン企業と株式会社アントンパール・ジャパンで共有いたします。予めご了承ください。