PITA-C (コンベア式乾式画像解析装置)

画像解析装置 PITA-04

画像解析装置PITAシリーズに新たなラインナップが加わりました。ボウルフィーダとコンベアを併用した独自のサンプル供給システムを採用することにより、乾式による連続画像解析が可能となりました。ペレットや造粒品など、今まで人の手で行っていた粒度・形状管理を自動化出来ます。粒度分布の把握はもちろん、形状や異物の確認など、多くの用途でご使用いただけます。
※装置外観は仕様により変更されることがあります。

 

特長

1. カメラ・ボウルフィーダ・ベルトコンベアのシンプルな構成
2. 樹脂ペレットの粒度分布把握に最適
3. ペレット1粒毎の測定を実現
4. 全量を整列供給するので、全数検査も可能
5. 手動測定からの自動化
6. オンライン化にも対応

システム構成

pita-c_system

仕様

解析原理 動的画像解析法
測定項目 円相当径、円形度、アスペクト比、長径、短径、周囲長、包絡周囲長、凹凸度、穴閉曲線の面積等
解析項目 平均値、最大値、最小値、標準偏差、分散
粒子径測定範囲 1~10mm(粒子の種類や物性により変動)
サンプル供給方式 ベルトコンベア
電源・接続方式 AC100V USB(PC-カメラ接続) RS232C(PC-PLC接続)

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