粒度分布測定

レーザー回折・散乱法

レーザーマイクロンサイザー LMS-3000

分散された粒子にレーザー光を照射すると、レーザー光は粒子により回折現象を起こします。この回折光をレンズで集光すると焦点面に回折リングが得られます。この、回折リングの径と光の強度分布からフラウンホーファーの光回折式を基本とした解析を行うことにより、粒子径分布（粒度分布）が求められます。

また、この光の回折現象を利用した解析は1μm近傍が限界となります。そこで１μm以下の粒径については、Mieの光散乱理論を適用し、回折光用とは別に設けられた散乱光用センサーで検出し、粒度分布を求めます。測定範囲に入っていれば粉体にかかわらず懸濁液やオイル中のダストのような測定が難しいサンプルについても測定を行っております。

※試料が極少量の場合、ワンショット（乾式）測定も行っております。

使用機器	LMS-3000、LMS-2000e
測定範囲	0.01μm～3500μm（1レンジ）
サンプル量	湿式:1g、乾式:10g
納期	2～3日

光透過式遠心沈降法

光透過式遠心沈降法では、ストークスの法則を適用し、同じ比重の粒子ならば大粒のものの方が小粒のものよりも早く沈降する事を利用します。その時の粒子濃度を光透過による濁度変化として解析し、粒子径分布（粒度分布）を求めます。微粒子においては遠心器を利用して沈降時間を短縮します。 ※この測定を行なうには試料の真比重値が必要です。真比重の測定も当社で可能です。

使用機器	MPS-Z（SKC-2000S）
測定範囲	0.1μｍ～500μｍ（１レンジ）
サンプル量	5ｇ
納期	2～3日

音波式（乾式分級）

ロボットシフターRPS-105（自動乾式音波ふるい分け測定器）

音波振動ふるい分け方式では、密閉状態にあるふるい内の空気のみを振動させます。この空気の振動によりふるい内のサンプルは周期性垂直運動を繰り返します。サンプルは半サイクルごとにふるい上から跳ね上がり、次の半サイクルでふるい上に戻りふるい目を通過するものとふるい上に残るものに分かれます。さらに、付着、目詰まり防止としてふるい底部と垂直方向から機械的パルスを与えます。