「粒子形状測定・粉体物性測定」 無料セミナーのお知らせ

7月22日(東京地区)および7月29日(大阪地区)に、「粒子形状測定・粉体物性測定」に関する無料セミナーを行います。本セミナーでは、実機をご覧いただきながら粉体の特性評価に役立つ測定技術をご紹介いたします。参加ご希望の方は、ページ右側にある「お問い合わせフォーム」より、必要事項記入の上、お申込みください。→受付終了いたしました

 場  所  東京地区  大阪地区

株式会社セイシン企業(本社)
東京都渋谷区千駄ヶ谷5-34-7
NEX新宿ビル9F

最寄駅:JR新宿駅から徒歩5分
    →地図

大阪研修センター 江坂
大阪府吹田市江坂町1-13-41
SRビル江坂(旧NF江坂ビル)

最寄駅:地下鉄御堂筋線「江坂」駅から徒歩1分 →地図

 日  時 2016年7月22日(金)
13:30~16:30 
※受付開始13:20
2016年7月29日(金)
13:20~16:30 
※受付開始13:10
 内  容

1.粒子画像解析装置機種 PITA-04

シングルミクロン以上の粒子解析で、レーザー回折散乱式粒度分布測定器に代わり、広く利用されるようになってきた動的画像解析法。この方式による粒子解析のご説明をいたします。粒子画像の焦点、当社技術を用いた撮影される粒子の向きを考慮した最先端技術をご紹介いたします。

2.マルチテスター MT-02

粉体の流動性・噴流性を数値化する最も汎用性が高い方法となるCarrの指数をご紹介いたします。粒子径だけでは把握しきれない流動性・噴流性といった、実際の粉体の感覚を数値化する方法をご紹介いたします。

 参  加  費 無 料 無 料
 定  員 受付終了いたしました 受付終了いたしました
 お問い合せ先  株式会社セイシン企業
 新規営業開発事業部 早矢仕、松下まで
 TEL:03-3350-5771
 MAIL:shinki@betterseishin.co.jp